隨著客戶的需求，鍍層測(cè)厚儀已經(jīng)發(fā)展為多元化，那在如今市場(chǎng)如何選姐一款好的儀器很重要，它關(guān)系到您以后的使用方便。

　　1.為什么鍍層測(cè)厚儀有時(shí)測(cè)量不準(zhǔn)確?

　　這是一個(gè)比較籠統(tǒng)的問題。因?yàn)榫蛢x器不準(zhǔn)的原因來說是多種多樣的。滄州歐譜單對(duì)鍍層測(cè)厚儀來說，主要有下面幾種原因引起測(cè)量不準(zhǔn)確。

　　(1)強(qiáng)磁場(chǎng)的干擾。我們?cè)鲞^一個(gè)簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)，當(dāng)儀器在1萬V左右的電磁場(chǎng)附近工作時(shí)，測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場(chǎng)非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。

　　(2)人為因素。這種情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。鍍層測(cè)厚儀之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測(cè)量過程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測(cè)機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測(cè)量方法。探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過長(zhǎng)，以免造成基體本身磁場(chǎng)的干擾。

　　(3)在系統(tǒng)矯正時(shí)沒有選擇合適的基體。基體zui小平面為7mm，zui小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。

　　(4)附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)矯正時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。

　　(5)儀器發(fā)生故障。此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。

　　2.鍍層測(cè)厚儀測(cè)量過程中，為什么有時(shí)候測(cè)量數(shù)據(jù)會(huì)出現(xiàn)明顯偏差?

　　因?yàn)榫蛢x器不準(zhǔn)的原因來說是多種多樣的。單對(duì)鍍層測(cè)厚儀來說，主要有下面幾種原因引起測(cè)量不準(zhǔn)確。

　?。?）強(qiáng)磁場(chǎng)的干擾。我們?cè)鲞^一個(gè)簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)，當(dāng)儀器在1萬V左右的電磁場(chǎng)附近工作時(shí)，測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場(chǎng)非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。 滄州歐譜

　　（2）人為因素。這中情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。鍍層測(cè)厚儀之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測(cè)量過程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測(cè)機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測(cè)量方法。探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過長(zhǎng)，以免造成基體本身磁場(chǎng)的干擾。

　?。?）在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒有選擇合適的基體?；wzui小平面為7mm，zui小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。

　　（4）附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。

　　（5）儀器發(fā)生故障。此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。

　?。?）測(cè)量過程當(dāng)中由于探頭放置方式不正確或者外界干擾因素的影響可能會(huì)造成測(cè)量數(shù)據(jù)明顯偏大。這時(shí)可以按住CAL鍵把該數(shù)據(jù)清除以免進(jìn)入數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)中去。

　　3.鍍層測(cè)厚儀如何系統(tǒng)校準(zhǔn)?

　　校準(zhǔn)的方法、種類，這是新用戶經(jīng)常會(huì)遇到的問題。系統(tǒng)校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)還有兩點(diǎn)校準(zhǔn)其實(shí)都已經(jīng)在說明書上寫到了，用戶只需仔細(xì)閱讀就可以了。需要注意的是：在校準(zhǔn)鐵基時(shí)是多測(cè)量幾次以防止錯(cuò)誤操作;系統(tǒng)校準(zhǔn)的樣片要按照從小到大的順序進(jìn)行。如果個(gè)別標(biāo)準(zhǔn)片丟失可以找與其數(shù)值相近的樣片代替。

　　4.如何選擇合適的儀器型號(hào)?

　　選擇什么型號(hào)的儀器，要根據(jù)用戶測(cè)量物體的厚度來定。一般來說測(cè)量450um以下的物體時(shí)選擇OU3500F400系列，對(duì)0~450um的厚度來說該型號(hào)已經(jīng)達(dá)到2%~3%的度，而且對(duì)450um以下的厚度值它也能夠很好的確保測(cè)量精度。如果測(cè)量物體厚度在0-5000um，建議選擇OU3500型測(cè)厚儀。更厚的話就要選擇OU3500F10型磁性鍍層測(cè)厚儀。

　　5.有時(shí)開機(jī)出現(xiàn)干擾是什么原因無損檢測(cè)資源網(wǎng)?

　　開機(jī)后儀器屏幕出現(xiàn)測(cè)量狀態(tài)箭頭不能再次進(jìn)行測(cè)量，就說明儀器受到了干擾。主要有兩個(gè)原因:

　　(1)開機(jī)時(shí)探頭離鐵基太近，因?yàn)殍F基磁場(chǎng)的影響而受到了干擾。

　　(2)沒插好探頭或者探頭線有損傷。